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源の測定の単位

半導体試験パルス SMU 源測定装置 P200B 100V 4A 30A

高電流パルス源測定装置 HCP100 Max 30A 50V 源メーター装置

300V 4A 30A パルス SMU ユニット P300B 半導体と材料のソース測定

2チャネルソースメーター

30V 30A ダブルチャネルソースメーター単位 DP100B 電圧/電流測定

100V 30A ダブルチャネルソースメーター DP200B BJTテストのためのソース測定装置

300V 30A 双源計 DP300B SMU 電気特性試験のための測定

多チャンネル試験装置

100V 1A PXI ソース測定ユニットシングルチャネルサブカード DC SMU ユニット CS200

シングルチャネル PXI SMU 30V 1A サブカード DCソース測定ユニット CS100

1010C 半導体と材料の特性検査のための多チャンネルSMUユニット

3 スロットサブカードプラグイン SMU ユニット 1003C ソース測定ユニット

4チャネル国計 SMU 10V 500mA サブカード DC ソース測定 CS401

高電流電源

300A 30V パルス電源高電流源 HCPL030 SiC IGBT GaN HEMT 試験用

1000A 18V 高電流パルス電流源 HCPL100 プログラム可能な電源

高電圧電源

2200V 100mA 高電圧電源 E200 常電圧電源

3500V/100mA 高圧電源 E300 高圧電源メーター

8000V 40mA 高電圧電源 E800 SiC / IGBT / GaN HEMT 試験用

1200V 100mA IGBT故障電圧試験用高電圧電源測定単位

レーザー電源の試験

20A CW / 20A QCW テストレーザー電源 HCPL002 高電力ダイオードレーザー電源

HCPL006 ダイオードレーザー電源 60A CW/60A QCW テストレーザー電源

60A CW / 600A QCW テストレーザー電源 HCPL060 ダイオードレーザー電源

データ取得カード

2MS/S マルチチャネル Pxi SMU 高速データ取得カード A400B 高速DAQカード

1MS/S A400 データ取得カード 4チャネル 16ビット ADC 解像度 Daq カード

半導体試験システム

1200V/100A 半導体パラメータ分析器 SPA6100 半導体試験システム

10Hz-1MHz半導体装置のC-V試験システム

1000A 電流センサー試験システム CTMS 半導体試験装置

LDBIレーザー老化半導体試験システム多チャンネル試験システム

10kV/6000A 電源装置分析器モスフェット BJT IGBT SiC GaN半導体のための静的試験 PMST

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