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| ブランド名: | PRECISE INSTRUMENT |
| モデル番号: | CS401 |
| MOQ: | 1 ユニット |
| 配達時間: | 2〜8週間 |
| 支払条件: | T/T |
10V/500mA 4チャネルサブカード DCソース測定ユニット CS401
CS400は,高容量のデバイステストのために設計されたモジュール型SMUソリューションで,サブカードごとに4チャネルを搭載した革新的なコモン・グラウンドアーキテクチャを備えています.CS1010Cホストシステムと統合された場合システム統合コストを従来の単チャンネル機器と比較して50%削減します.LED/OLED生産ラインの老化試験および半導体ウェーファー多プロブ並行検査を含む高出力アプリケーションに最適化.
製品の特徴
▪ 病気 の 原因±0.1% 基本精度:供給と沈没の両方のモードで全範囲で精度を維持します
▪ 病気 の 原因多機能操作:電圧/電流源,ボルトメートル/アンメートル,電子負荷の機能を組み合わせます
▪ 病気 の 原因プログラム可能なトリガー I/O:自動テストシーケンシングのための設定可能なトリガー偏性 (上昇/下降の縁)
▪ 病気 の 原因 独立チャンネル制御:各チャネルは,混合装置のテストシナリオでは自律的に動作します.
▪ 病気 の 原因空間効率の良い設計コンパクトなモジュール構造により,生産環境におけるラック密度は最大化される.
▪ 病気 の 原因SCPI互換性標準コマンドセットは,LabVIEW/Python自動化フレームワークとのシームレスな統合を可能にします.
製品パラメータ
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ポイント |
パラメータ |
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チャンネル数 |
4つのチャンネル |
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電圧範囲 |
1~10V |
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最低電圧解像度 |
100uV |
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現在の範囲 |
5uA 〜 500mA |
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最低電流解像度 |
500pA |
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最大連続波 (CW) 出力 |
チャンネル5W,4四角源またはシンクモード |
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安定した負荷容量 |
<22nF |
|
ブロードバンドノイズ (20MHz) |
2mV RMS (典型的な値),<20mV Vp-p (典型的な値) |
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最大採取率 |
1000 S/s |
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源の測定精度 |
0.10% |
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対応しているホスト |
1003C,1010C |
申請
▪ 病気 の 原因半導体装置の試験:離散装置 (MOSFET,ダイオード,BJT) の静的/動的パラメータ分析
▪ 病気 の 原因 ナノ材料と有機電子:抗性とホール効果試験 グラフェン,ナノワイヤー,電子インク材料
▪ 病気 の 原因エネルギー装置の評価:太陽電池,DC-DCコンバーター,電池の効率テストとI-V曲線スキャン
▪ 病気 の 原因センサーの校正:ガス/圧力感受性レジスタおよび温度センサーの感度および応答特性
▪ 病気 の 原因複数のチャネル並行テスト:LED/AMOLEDパネルの老化試験と多デバイスのバッチ検証のための大量生産QA
ビデオ
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| ブランド名: | PRECISE INSTRUMENT |
| モデル番号: | CS401 |
| MOQ: | 1 ユニット |
| パッケージの詳細: | カートン |
| 支払条件: | T/T |
10V/500mA 4チャネルサブカード DCソース測定ユニット CS401
CS400は,高容量のデバイステストのために設計されたモジュール型SMUソリューションで,サブカードごとに4チャネルを搭載した革新的なコモン・グラウンドアーキテクチャを備えています.CS1010Cホストシステムと統合された場合システム統合コストを従来の単チャンネル機器と比較して50%削減します.LED/OLED生産ラインの老化試験および半導体ウェーファー多プロブ並行検査を含む高出力アプリケーションに最適化.
製品の特徴
▪ 病気 の 原因±0.1% 基本精度:供給と沈没の両方のモードで全範囲で精度を維持します
▪ 病気 の 原因多機能操作:電圧/電流源,ボルトメートル/アンメートル,電子負荷の機能を組み合わせます
▪ 病気 の 原因プログラム可能なトリガー I/O:自動テストシーケンシングのための設定可能なトリガー偏性 (上昇/下降の縁)
▪ 病気 の 原因 独立チャンネル制御:各チャネルは,混合装置のテストシナリオでは自律的に動作します.
▪ 病気 の 原因空間効率の良い設計コンパクトなモジュール構造により,生産環境におけるラック密度は最大化される.
▪ 病気 の 原因SCPI互換性標準コマンドセットは,LabVIEW/Python自動化フレームワークとのシームレスな統合を可能にします.
製品パラメータ
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ポイント |
パラメータ |
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チャンネル数 |
4つのチャンネル |
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電圧範囲 |
1~10V |
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最低電圧解像度 |
100uV |
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現在の範囲 |
5uA 〜 500mA |
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最低電流解像度 |
500pA |
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最大連続波 (CW) 出力 |
チャンネル5W,4四角源またはシンクモード |
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安定した負荷容量 |
<22nF |
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ブロードバンドノイズ (20MHz) |
2mV RMS (典型的な値),<20mV Vp-p (典型的な値) |
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最大採取率 |
1000 S/s |
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源の測定精度 |
0.10% |
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対応しているホスト |
1003C,1010C |
申請
▪ 病気 の 原因半導体装置の試験:離散装置 (MOSFET,ダイオード,BJT) の静的/動的パラメータ分析
▪ 病気 の 原因 ナノ材料と有機電子:抗性とホール効果試験 グラフェン,ナノワイヤー,電子インク材料
▪ 病気 の 原因エネルギー装置の評価:太陽電池,DC-DCコンバーター,電池の効率テストとI-V曲線スキャン
▪ 病気 の 原因センサーの校正:ガス/圧力感受性レジスタおよび温度センサーの感度および応答特性
▪ 病気 の 原因複数のチャネル並行テスト:LED/AMOLEDパネルの老化試験と多デバイスのバッチ検証のための大量生産QA
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