300V 4A 30A パルス SMU ユニット P300B 半導体と材料のソース測定

P300Bベンチトップパルスソースメーターはハイブリッド信号処理技術を統合し,高精度のアナログフロントエンドとインテリジェントデジタル処理ユニットを組み合わせています.5インチタッチスクリーンは直感的な制御ハブとリアルタイムデータビジュアライゼーションポータルの両方で機能します試験の進行と結果をグラフィカルインターフェイスで監視できる. 最大出力300Vと30Aのパルス電流で, the P300B supports four-quadrant operation to simulate complex electrical scenarios—from forward driving and reverse braking to energy recovery—providing robust technical support for advanced applications in semiconductorsナノ材料,有機電子,印刷電子

製品の特徴

▪ 病気 の 原因超高精度と安定性精度は0.03% (電流1μA1A,全電圧範囲) と拡張範囲 (10nA,100nA,4A,10A,30A) の精度は0.1%です.温度 を 安定 さ せる 回路 や 電磁 遮蔽 装置 は,環境 の 干渉 を 最小 に する.

▪ 病気 の 原因スマートタッチインタラクション:5インチタッチスクリーンでジェスチャー制御 (ズーム,スワイプ) とガイドされたワークフローが 複雑な設定を簡素化します

▪ 病気 の 原因全範囲カバー:測定値 1pA?? 30A (パルスモード), 1pA?? 4A (DCモード), 0?? 300V 自動レンジングで,さまざまなデバイスにシームレスに適応できます.

▪ 病気 の 原因精密パルス制御DDS (ダイレクトデジタル合成) とフィードバックアルゴリズムによる200μs最小パルス幅は,一時応答試験のための安定した振幅,周波数,相を保証する.

▪ 病気 の 原因4つの四角形の柔軟性電気自動車や電源システムにおける エネルギー吸収や二方向電流などの 現実シナリオをシミュレートします

▪ 病気 の 原因カスタマイズできるスキャン:線形/対数式スイープ,複数のセグメントのシーケンス,専門テストのためのユーザー定義パラメータ

▪ 病気 の 原因高級データ分析内蔵ソフトウェアは,I-V/P-V曲線,ヒストグラム,レポートを生成する. 1 クリックでUSBストレージとRS-232/GPIB/LAN経由でリモートデータ共有.

製品パラメータ

申請

▪ 病気 の 原因半導体研究開発高電圧/高温条件下におけるレジスタ,ダイオード,トランジスタ,および広帯域半導体 (SiC/GaN) の特性.

▪ 病気 の 原因エネルギーと電力システム:太陽電池の効率,電池の充電/放電サイクル,グリッド接続インバーター/コンバーターの信頼性を試験する.

▪ 病気 の 原因センサー:温度/圧力/ガスセンサーの線性,応答時間,および産業/消費者向けアプリケーションの安定性を検証する.

▪ 病気 の 原因先進的な材料:グラフェン/ナノワイヤの伝導性,有機電子インクの性能,柔軟な/着用可能な電子機器を分析する.