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| ブランド名: | PRECISE INSTRUMENT |
| モデル番号: | S100 |
| MOQ: | 1 ユニット |
| 配達時間: | 2〜8週間 |
| 支払条件: | T/T |
半導体の電気特性試験 SMUユニット S100 DC 30V 1A SMU測定
S100 ソース測定装置は 精巧に PRECISE INSTRUMENT が設計したもので 国産の試験機器の代表です外国技術による長年の独占を壊し,高精度で前例のないテスト体験を提供しますこの汎用的なユニットは複数の機能を統合し,様々な電気特性試験タスクを容易に処理します.
製品の特徴
▪ 病気 の 原因精度測定保証:S100の高精度測定能力は 厳格な品質のゲートキーパーとして機能します最小の誤りでも記録することで,信頼性と精度を保証する.
▪ 病気 の 原因オールインワン機能:複数のテストモードを組み合わせると S100は 汎用ツールキットのようなものです異なるシナリオで多様なテストニーズを満たす.
▪ 病気 の 原因高解像度高解像度出力と測定により,S100は最小の信号変化を検出することができ,精密なテストに最適になり,満足のいく結果を提供します.
▪ 病気 の 原因4つの四半期作戦:4つの四面体操作をサポートし,実用的なテストデータを提供するために実際の作業条件をシミュレートして,源と沈みの両方の電力を供給することができます.
▪ 病気 の 原因簡単に統合するためのリッチインターフェース:GPIB,USB,LAN,その他のインターフェースを備えた S100は,リモコン制御のための他のデバイスとシームレスに統合されます.試験効率を向上させ,自動化試験システムに簡単に組み込む.
▪ 病気 の 原因操作がユーザーフレンドリー直感的なグラフィックインターフェースと使いやすいソフトウェアを備えたS100は,広範なトレーニングなしでユーザーを迅速に起動させ,初心者でもアクセスできるようにします.
製品パラメータ
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ポイント |
パラメータ |
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V範囲 |
300mV~30V |
|
I-ラング |
100 nA-1 A |
|
精度 |
00.1% |
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電力制限 |
DCモード:最大30W |
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超距離能力 |
供給と測定のための範囲の105% |
|
スウィープタイプ |
線形,ログ,カスタム |
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安定した負荷容量 |
<22nF |
|
ブロードバンド騒音 |
2mV RMS (典型),<20mV Vp-p (典型) |
|
ケーブルガード電圧 |
出力インペダンス 30KΩ,出力電圧オフセット <80mV |
|
最大採取率 |
1000S/s |
|
プログラミング |
SCPI |
|
トリガー |
IO トリガー入力と出力をサポートする,トリガー極度設定可能 |
|
出力インターフェース |
前後 バナナジャック |
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通信港 |
RS-232 GPIB イーサネット |
|
電源 |
AC 100~240V 50/60Hz |
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操作環境 |
25±10°C |
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尺寸 (LWH) |
425mm × 255mm × 106mm |
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体重 |
5kg |
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保証期間 |
1年 |
申請
▪ 病気 の 原因半導体試験:半導体産業では,ダイオード,トランジスタ,MOSFET,および他のデバイスの特徴付けが極めて重要です.S100は,R&D,生産,品質検査半導体産業の発展を推進する
▪ 病気 の 原因材料研究S100は新しい材料の電気性能を研究するための 重要なツールとして機能します研究者が材料の性能を調査し,革新的な材料の開発と応用を加速させる.
▪ 病気 の 原因電子部品の試験:S100はレジスタ,コンデンサ,インダクタなどの電子部品をテストする際に部品の品質と電子機器の安定した動作を保証する.
▪ 病気 の 原因研究と教育科学研究では,正確なデータが結果の基礎です. S100の高精度測定と汎用機能は,信頼できるデータサポートを提供します. 教育では,S100は,S100の高精度測定と汎用機能により,S100の高精度測定と高精度測定と高精度測定と高精度測定と高精度測定と高精度測定と高精度測定を可能にします.学生に電気特性をもっとよく理解させる教育の効果を向上させる
▪ 病気 の 原因自動化試験システム:効率的なテストを追求するため S100 は自動化テストシステムに統合され テストプロセスを合理化し 効率を向上させ 人間のエラーを減らすことができます大規模なテスト作業のための理想的なソリューションになります.
ビデオ
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| ブランド名: | PRECISE INSTRUMENT |
| モデル番号: | S100 |
| MOQ: | 1 ユニット |
| パッケージの詳細: | カートン |
| 支払条件: | T/T |
半導体の電気特性試験 SMUユニット S100 DC 30V 1A SMU測定
S100 ソース測定装置は 精巧に PRECISE INSTRUMENT が設計したもので 国産の試験機器の代表です外国技術による長年の独占を壊し,高精度で前例のないテスト体験を提供しますこの汎用的なユニットは複数の機能を統合し,様々な電気特性試験タスクを容易に処理します.
製品の特徴
▪ 病気 の 原因精度測定保証:S100の高精度測定能力は 厳格な品質のゲートキーパーとして機能します最小の誤りでも記録することで,信頼性と精度を保証する.
▪ 病気 の 原因オールインワン機能:複数のテストモードを組み合わせると S100は 汎用ツールキットのようなものです異なるシナリオで多様なテストニーズを満たす.
▪ 病気 の 原因高解像度高解像度出力と測定により,S100は最小の信号変化を検出することができ,精密なテストに最適になり,満足のいく結果を提供します.
▪ 病気 の 原因4つの四半期作戦:4つの四面体操作をサポートし,実用的なテストデータを提供するために実際の作業条件をシミュレートして,源と沈みの両方の電力を供給することができます.
▪ 病気 の 原因簡単に統合するためのリッチインターフェース:GPIB,USB,LAN,その他のインターフェースを備えた S100は,リモコン制御のための他のデバイスとシームレスに統合されます.試験効率を向上させ,自動化試験システムに簡単に組み込む.
▪ 病気 の 原因操作がユーザーフレンドリー直感的なグラフィックインターフェースと使いやすいソフトウェアを備えたS100は,広範なトレーニングなしでユーザーを迅速に起動させ,初心者でもアクセスできるようにします.
製品パラメータ
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ポイント |
パラメータ |
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V範囲 |
300mV~30V |
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I-ラング |
100 nA-1 A |
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精度 |
00.1% |
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電力制限 |
DCモード:最大30W |
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超距離能力 |
供給と測定のための範囲の105% |
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スウィープタイプ |
線形,ログ,カスタム |
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安定した負荷容量 |
<22nF |
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ブロードバンド騒音 |
2mV RMS (典型),<20mV Vp-p (典型) |
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ケーブルガード電圧 |
出力インペダンス 30KΩ,出力電圧オフセット <80mV |
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最大採取率 |
1000S/s |
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プログラミング |
SCPI |
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トリガー |
IO トリガー入力と出力をサポートする,トリガー極度設定可能 |
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出力インターフェース |
前後 バナナジャック |
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通信港 |
RS-232 GPIB イーサネット |
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電源 |
AC 100~240V 50/60Hz |
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操作環境 |
25±10°C |
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尺寸 (LWH) |
425mm × 255mm × 106mm |
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体重 |
5kg |
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保証期間 |
1年 |
申請
▪ 病気 の 原因半導体試験:半導体産業では,ダイオード,トランジスタ,MOSFET,および他のデバイスの特徴付けが極めて重要です.S100は,R&D,生産,品質検査半導体産業の発展を推進する
▪ 病気 の 原因材料研究S100は新しい材料の電気性能を研究するための 重要なツールとして機能します研究者が材料の性能を調査し,革新的な材料の開発と応用を加速させる.
▪ 病気 の 原因電子部品の試験:S100はレジスタ,コンデンサ,インダクタなどの電子部品をテストする際に部品の品質と電子機器の安定した動作を保証する.
▪ 病気 の 原因研究と教育科学研究では,正確なデータが結果の基礎です. S100の高精度測定と汎用機能は,信頼できるデータサポートを提供します. 教育では,S100は,S100の高精度測定と汎用機能により,S100の高精度測定と高精度測定と高精度測定と高精度測定と高精度測定と高精度測定と高精度測定を可能にします.学生に電気特性をもっとよく理解させる教育の効果を向上させる
▪ 病気 の 原因自動化試験システム:効率的なテストを追求するため S100 は自動化テストシステムに統合され テストプロセスを合理化し 効率を向上させ 人間のエラーを減らすことができます大規模なテスト作業のための理想的なソリューションになります.
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