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Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
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LDBI 多チャネル高性能レーザー老化システム
February 26, 2025
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1000A 電流センサー試験システム CTMS
February 26, 2025
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10kV/6000A 電源装置分析器 静的試験システム PMST MOSFET BJT IGBT と SiC GaN 半導体
February 26, 2025
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1200V/100A 半導体パラメータ分析器 SPA6100
February 26, 2025
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2 MS/s マルチチャネルデータ取得カード A400B ボード 高速
February 26, 2025
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A400 データ取得カード 16 ビット ADC 解像度と 1MS/s サンプリング 速度
February 26, 2025
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60A CW/600A QCW 高電力のテストレーザー電源 HCPL060
February 25, 2025
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60A CW/60A QCW 高功率テストレーザー電源 HCPL006
February 25, 2025
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20A CW/20A QCW 高功率テストレーザー電源 HCPL002
February 25, 2025
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8000V/40mA 高圧電源E800
February 25, 2025
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300A/30V 高電流パルス電源 HCPL030 SiC/IGBT/GaN HEMT試験用
February 25, 2025
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3500V/100mA 高圧電源 E300
February 25, 2025
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2200V/100mA 高電圧電源 E200
February 25, 2025
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IGBT故障電圧試験用の高電圧電源1200V/100mA
February 25, 2025
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1000A/18V 高電流パルス電源 HCPL100 SiC/IGBT/GaN HEMT 試験用
February 25, 2025
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S300 DCソース測定ユニット 300V/1A 電気特性試験
February 24, 2025
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300V/3A 半導体試験 DC 源測定装置 S300B
February 24, 2025
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30V/1A/10A 半導体試験 四四角操作 パルス源計 P100
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100V/1A/10A パルスソースメーター P200 半導体の特徴付け
February 24, 2025
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300V/1A/10A 半導体試験 四四角操作 パルス源計 P300
February 24, 2025
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300V/4A/30A 半導体および材料のためのパルス源測定装置P300B
February 24, 2025
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高電流パルス源測定ユニット HCP100 最大パルス出力電流30Aと最大出力電圧50V
February 24, 2025
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100V/100A 高電流パルス源測定単位 HCP300 IGBT
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300V/30A ダブルチャネル・ソース・メーター DP300B
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BJT試験用100V/30A ダブルチャネルソースメーター DP200B
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30V/30A 双チャネルソースメーター DP100B 電圧/電流測定と4つの四半期操作
February 24, 2025
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10V/500mA 4チャネルサブカード DCソース測定ユニット CS401
February 24, 2025
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10V/500mA 4チャネルサブカード パルス源測定装置 CBI401
February 24, 2025
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10V/1A 4チャネルサブカード パルス源測定ユニット CBI402
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18V/1A 4チャネルサブカード パルス源測定ユニット CBI403
February 24, 2025
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3スロットサブカード プラグインソース測定ユニット1003C 工業レベルの信頼性と拡張性
February 24, 2025
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30V/1A シングルチャネルサブカード DCソース測定ユニット CS100
February 24, 2025
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100V/1A シングルチャネルサブカード DCソース測定ユニット CS200
February 24, 2025
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300V/1A シングルチャネルサブカード DCソース測定ユニット CS300
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18V/1A 4チャネルサブカード 源 DC 測定装置 CS402
February 24, 2025
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10V/500mA 4チャネルサブカード DCソース測定ユニット CS401
February 24, 2025
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10V/200mA 4チャネルサブカードソースメーター CS400 パラレル環境での高通量試験
February 24, 2025
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30V/1A 半導体の電気特性試験 DC源測定単位 S100
February 24, 2025
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PRECISE ツール 探求の源 内部と外部の一貫性
February 17, 2025