チャット
お問い合わせ
家へ
ビデオ
プレイリスト
わたしたち に つい て
公式サイト
日本語
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
1200V/100A 半導体パラメータ分析器 SPA6100
半導体試験システム
February 26, 2025
チャット
SPA6100 半導体パラメータ分析器を導入します 高精度,幅広い測定範囲,迅速な柔軟性,DC電流電圧の同時試験をサポートする高電流/高電圧条件下における電容・電圧およびパルス型I-V特性,電圧範囲300mV~1200V,電流範囲10nA~100A,および 0.1%、0.03%の精度です ウェブサイトへようこそ!
半導体試験システム
1200V/100A 半導体パラメータ分析器 SPA6100 半導体試験システム
接触
10Hz-1MHz半導体装置のC-V試験システム
接触
1000A 電流センサー試験システム CTMS 半導体試験装置
接触
LDBIレーザー老化半導体試験システム 多チャンネル試験システム
接触
10kV/6000A 電源装置分析器 モスフェット BJT IGBT SiC GaN半導体のための静的試験 PMST
接触
関連動画
00:34
LDBI 多チャネル高性能レーザー老化システム
半導体試験システム
February 26, 2025
00:24
1000A 電流センサー試験システム CTMS
半導体試験システム
February 26, 2025
00:30
10kV/6000A 電源装置分析器 静的試験システム PMST MOSFET BJT IGBT と SiC GaN 半導体
半導体試験システム
February 26, 2025
01:24
PRECISE ツール 探求の源 内部と外部の一貫性
その他のビデオ
February 17, 2025
00:24
300V/4A/30A 半導体および材料のためのパルス源測定装置P300B
源の測定の単位
February 24, 2025
00:24
300V/3A 半導体試験 DC 源測定装置 S300B
源の測定の単位
February 24, 2025
00:24
300V/1A/10A 半導体試験 四四角操作 パルス源計 P300
源の測定の単位
February 24, 2025
00:36
30V/1A 半導体の電気特性試験 DC源測定単位 S100
源の測定の単位
February 24, 2025
00:24
IGBT故障電圧試験用の高電圧電源1200V/100mA
高電圧電源
February 25, 2025
00:24
1000A/18V 高電流パルス電源 HCPL100 SiC/IGBT/GaN HEMT 試験用
源の測定の単位
February 25, 2025